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掃描電化學(xué)顯微鏡SECM

簡要描述:掃描電化學(xué)顯微鏡SECM是一套多功能的SPM掃描探針顯微鏡系統(tǒng),還可以集成SICM,SECCM等多種微區(qū)功能。

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  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-05-21
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掃描電化學(xué)顯微鏡SECM是一套多功能的SPM掃描探針顯微鏡系統(tǒng),還可以集成SICM,SECCM等多種微區(qū)功能。

掃描電化學(xué)顯微鏡SECM具備掃描電化學(xué)顯微鏡及掃描離子電導(dǎo)顯微鏡成像(SECM/ SICM)與可定制模塊化的光學(xué)顯微鏡成像同步聯(lián)用的系統(tǒng),此多功能的儀器系統(tǒng)全面覆蓋細(xì)胞表面分析,細(xì)胞納米形貌成像,細(xì)胞膜表面的離子通道的檢測與成像, 細(xì)胞納米力學(xué)領(lǐng)域的研究與創(chuàng)新,細(xì)胞活性和生理功能的原位電化學(xué)檢測,以及神經(jīng)傳導(dǎo)物質(zhì)的原位快速檢測,并可升級后兼容熒光比值鈣成像等諸多前沿應(yīng)用。提供原位微觀形貌與電催化活性同步掃描檢測模式,例如:基礎(chǔ)的等高模式和高級的等間距模式下的矩陣協(xié)議掃描和模板自定義掃描(3D微觀打印或局部修飾等模式),提供給用戶無限的實(shí)驗(yàn)組合和多種分析實(shí)驗(yàn)方法的高級拓展與聯(lián)用。

系統(tǒng)組件與功能描述及核心參數(shù):

1.1 機(jī)械掃描四軸納米定位系統(tǒng)(模塊):

    1)X/Y/Z 三軸掃描探針定位系統(tǒng):閉環(huán)電路控制的直流伺服XYZ馬達(dá)臺疊加Z-軸壓電驅(qū)動系統(tǒng),XYZ馬達(dá)臺具備掃描分辨率≤10nm,馬達(dá)掃描軸大動態(tài)掃描范圍不小于X=100mm, Y=75mm, Z=50mm;Z-軸配備的納米分辨率壓電驅(qū)動系統(tǒng)具備步進(jìn)分辨率≤1.5納米。掃描系統(tǒng)具備探針與樣品共掃描模式,Z-軸可快速完成長距離下的全自動探針逼近過程。

    2)系統(tǒng)具備X/Y/Z/F 四維亞微米便攜式獨(dú)立遙控桿,具有慢速和長距離/快速雙模式。

    3) XY掃描軸可擴(kuò)展移動定位范圍,具備手動調(diào)節(jié)旋鈕可額外擴(kuò)展 X/Y定位范圍至不少于±12.5 mm。

1.2 系統(tǒng)無縫集成的微觀光學(xué)顯微鏡成像系統(tǒng)(模塊):

    1)核心光學(xué)組件倒置集成于XY樣品臺的正下方,光學(xué)成像對焦由電動馬達(dá)自動聚焦驅(qū)動器(分辨率≤5.5nm,對焦移動范圍≥5厘米),光學(xué)對焦位置可進(jìn)行數(shù)字式調(diào)節(jié)和記錄。

    2)光學(xué)成像光路具備模塊化顯微鏡光路設(shè)計,核心組件具備臨界照明的落射熒光光學(xué)元件,光導(dǎo)耦合器,及用戶可自由調(diào)節(jié)的濾光片立方體和用于連接像機(jī)的C型接口適配器。

    3)倒置顯微鏡須配備6孔位物鏡盤,系統(tǒng)配置的物鏡須具有長工作距離的熒光級物鏡,放大倍數(shù)至少為4x, 20x和 40x.

    4)被觀測樣品的光學(xué)照片及視頻可由系統(tǒng)相機(jī)進(jìn)行實(shí)時采集,激發(fā)控制模式支持預(yù)設(shè)、內(nèi)部同步、曝光激發(fā)、連續(xù)曝光模式。

    5)光學(xué)系統(tǒng)兼容升級接入無縫集成的LED熒光激發(fā)光源系統(tǒng),熒光濾波片組及超高速熒光CCD相機(jī)。

1.3. 多功能雙通道電化學(xué)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(模塊):

雙恒電位儀工作站核心硬件參數(shù):

1)槽壓:± 12V;

2)電流可用量程:±5 pA 至 ±100mA

3)大電流: ±100 mA

4)*電流分辨率: ≤0.15fA 在 5pA 量程 ;

5)*電流噪音:RMS實(shí)測值≤ 3.5 fA (15Hz); ≤ 31 fA(1kHz); ≤ 120 fA(5kHz), (測于5pA-10pA量程) ;

6)電位分辨率≤610 nV ;

7)內(nèi)置數(shù)模轉(zhuǎn)換器16-bit / 脈沖≤ 5 us (雙通道);

8)支持四電極連接模式,具有浮地接線模式。


<strong>掃描電化學(xué)顯微鏡SECM</strong>(圖1)



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